מערכת מיקרוסקופ הסטריאו VIC-3D מבית Correlated Solutions היא מערכת אופטית מדויקת ביותר למדידת צורת פני השטח, עיוות ועומס על דגימות בקנה מידה מיקרוסקופי הנתונות לעומס מופעל. המדידות בהגדלה גבוהה מתקבלות באמצעות מיקרוסקופ סטריאו עם מצלמות דיגיטליות ראיית מכונה ברזולוציה גבוהה, מפצל קרן אופטי מותאם אישית, במה ממונעת (או ידנית) מדויקת בעלת 3 צירים ותוכנה פטנטית לתיקון עיוות מורכב. פתרון מוכן לשימוש זה אידיאלי למדידת עומס על סיבים מרוכבים, חיבורי הלחמה, רכיבים חשמליים, חומרים ביולוגיים ועוד.

רקע טכנולוגי

אתגרים המוצגים במיקרוסקופ תלת-ממדי DIC בקנה מידה מיקרוסקופי
באופן מסורתי, מדידות DIC תלת-ממדיות היו קשות להשגה על דגימות בהן נדרשת הגדלה גבוהה. הסיבה לכך היא בעיקר היעדר אופטיקה עם עומק שדה מספיק כדי להשיג שתי תמונות בהגדלה גבוהה מזוויות צפייה שונות. מיקרוסקופים סטריאו מתגברים על מגבלת עומק השדה, אולם האופטיקה המורכבת של שימוש באובייקטיב יחיד עם סדרה של מראות מציגה עיוותים שאינם נלקחים בחשבון בשיטות כיול מסורתיות. תמונות לא מתוקנות אלו יביאו לנתוני מדידה מוטים מאוד של צורה ומאמץ. למעשה, לא נדיר לצפות ברמות הטיה של כמה אלפי מיקרו-מאמץ או יותר מבלי לבצע תיקון.

פתרון: מיקרוסקופ סטריאו VIC-3D עם תיקון עיוות תלת-ממדי פטנטי

כדי להתגבר על בעיה זו, Correlated Solutions פיתחה שיטת כיול קלה לשימוש המתקנת את העיוותים האופטיים המורכבים, הלא-רדיאליים, הקיימים במיקרוסקופים סטריאו. שיטת הכיול של מיקרוסקופ VIC-3D מחשבת ומתקנת את שדות העיוות הלא-פרמטריים של מיקרוסקופ הסטריאו, והוכחה כמבטלת לחלוטין את הטיית הצורה והמאמץ מהמדידות. ללא תיקון זה, יש לצפות להטיית מדידה.

קורלציה של תמונה דיגיטלית לניתוח מיקרוסקופ
הליך בלעדי זה חיוני בעת ביצוע DIC תלת-ממדי תחת מיקרוסקופ. בשלב זה, נלקחת רצף תמונות של מטרת הזכוכית המנוקדת שסופקה. VIC-3D מנתח את זוגות התמונות הללו כדי להסיר את כל העיוותים האופטיים, אשר מחושבים ומתוקנים. בעזרת שלב הדיוק הממונע בעל 3 הצירים, רצף עיוותים זה הופך לתהליך אוטומטי, חוסך זמן ומפשט עוד יותר את תהליך הכיול.

מאפייני המערכת

קורלציה של תמונה דיגיטלית לניתוח מיקרוסקופ

הגדרת מעבדה אופיינית של מערכת המיקרוסקופ VIC-3D

טווח זום (שדה ראייה): 0.8 מ”מ עד 7 מ”מ

מדידות שדה מלא של קואורדינטות תלת-ממדיות, תזוזות, מהירויות וטנזורי מאמץ מלאים

רכישת תמונה אוטומטית לתיקון עיוות עם במה ממונעת

חפיפה מושלמת של תמונה ומיקוד/יישור פרפוקלי לזום קל בין הגדלות 1x-8x

התאמות נתיב אופטי עצמאיות לחפיפה אופטימלית של תמונה

כלים רבי עוצמה להמחשת נתונים באמצעות קשתית

ניתן להניח תצוגות קווי מתאר על גבי תמונות של דגימת הבדיקה

חילוץ נתונים מגרפים תלת-ממדיים המבוססים על קווים ועיגולים מוגדרים על ידי המשתמש

ייצוא נוח של נתונים

ניתן לייצא נתונים בפורמטים Tecplot/ASCII רגיל, Matlab ו-STL

ניתן לחלץ בקלות נתוני צומת לצורך אימות FEA

תחזוקת מערכת למשך שנה אחת כלולה (תמיכה טכנית ותוכנה ללא הגבלה) שדרוגים)

אחריות לשנתיים על פגמים בחומרים ו/או בייצור בכל החלקים